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高壓加速老化試驗(yàn)箱中的UHAS與BHAST測試的區(qū)別

更新時(shí)間:2024-09-12   點(diǎn)擊次數(shù):148次

在探討HAST(高加速溫度和濕度壓力試驗(yàn))高壓加速老化試驗(yàn)箱中的UHAST與BHAST兩種測試方法時(shí),我們首先需要理解它們各自的定義、目的以及在實(shí)際應(yīng)用中的區(qū)別。HAST試驗(yàn)作為一種高度加速的可靠性測試手段,廣泛應(yīng)用于電子元件、PCB、半導(dǎo)體、太陽能及顯示面板等產(chǎn)品的可靠性評(píng)估中,其核心在于通過模擬環(huán)境條件下的溫度和濕度變化,加速產(chǎn)品的老化過程,從而縮短測試周期,節(jié)約時(shí)間和成本。


 一、UHAST試驗(yàn):無偏壓高加速應(yīng)力測試

UHAST,即Unbiased Highly Accelerated Stress Test,是一種在高溫高濕環(huán)境下對(duì)電子元件進(jìn)行可靠性評(píng)估的測試方法,其顯著特點(diǎn)是在測試過程中不對(duì)被測器件施加任何偏置電壓。這一特性使得UHAST能夠更真實(shí)地反映器件在純粹環(huán)境應(yīng)力作用下的表現(xiàn),特別是那些可能因偏壓存在而被掩蓋的失效機(jī)理,如電偶腐蝕等。

UHAST測試條件通常遵循JEDEC標(biāo)準(zhǔn)JESD22-A110,其中包括但不限于130℃的高溫、85%RH的相對(duì)濕度以及特定的測試時(shí)間(如96小時(shí))。在這樣的條件下,UHAST能夠加速器件內(nèi)部的遷移、腐蝕、絕緣劣化和材料老化等過程,從而快速識(shí)別出潛在的設(shè)計(jì)缺陷或材料問題。

在測試過程中,UHAST強(qiáng)調(diào)對(duì)芯片殼溫和功耗數(shù)據(jù)的監(jiān)控,以確保結(jié)溫不會(huì)過高,防止因過熱導(dǎo)致的非環(huán)境應(yīng)力失效。此外,測試起始時(shí)間和結(jié)束時(shí)間的精確控制也是UHAST測試準(zhǔn)確性的關(guān)鍵。

 二、BHAST試驗(yàn):偏壓高加速應(yīng)力測試

UHAST不同,BHAST(Biased Highly Accelerated Stress Test)在測試過程中引入了偏置電壓,使被測器件在經(jīng)受高溫高濕環(huán)境的同時(shí),還承受一定的電應(yīng)力。這種雙重應(yīng)力的疊加作用,旨在加速器件內(nèi)部的腐蝕過程,從而進(jìn)一步縮短測試周期,提高測試效率。

BHAST測試同樣遵循JESD22-A110等標(biāo)準(zhǔn),但在測試條件上增加了電壓偏差的要求。在測試過程中,所有電源均需上電,且電壓需設(shè)置在最大推薦操作范圍內(nèi),以確保器件在偏壓下的穩(wěn)定性。同時(shí),為了降低功耗,數(shù)字部分可能不翻轉(zhuǎn),輸入晶振短接,以及其他降功耗措施也會(huì)被采用。此外,輸入管腳和其他關(guān)鍵管腳(如時(shí)鐘端、復(fù)位端、輸出管腳)在測試過程中會(huì)被隨機(jī)拉高或拉低,以模擬實(shí)際工作場景中的電信號(hào)變化。

 三、UHAST與BHAST的區(qū)別

1. 偏壓應(yīng)用:UHAST測試過程中不對(duì)器件施加偏壓,而BHAST則引入了偏置電壓,這是兩者最本質(zhì)的區(qū)別。偏壓的存在使得BHAST能夠模擬器件在實(shí)際工作中的電應(yīng)力狀態(tài),從而更全面地評(píng)估其可靠性。

2. 測試目標(biāo):UHAST主要關(guān)注器件在高溫高濕環(huán)境下的純環(huán)境應(yīng)力失效機(jī)理,如遷移、腐蝕等;而BHAST則側(cè)重于加速器件在電應(yīng)力和環(huán)境應(yīng)力共同作用下的腐蝕過程,以快速發(fā)現(xiàn)潛在的可靠性問題。

3. 測試效率:雖然兩者都能顯著縮短測試周期,但BHAST由于引入了偏置電壓,通常能夠更快地揭示器件的失效模式,從而提高測試效率。

4. 應(yīng)用場景:在實(shí)際應(yīng)用中,UHAST和BHAST各有側(cè)重。UHAST更適合于評(píng)估那些對(duì)電應(yīng)力不敏感或電應(yīng)力影響較小的器件;而BHAST則更適用于需要全面評(píng)估器件在電應(yīng)力和環(huán)境應(yīng)力共同作用下的可靠性的場景。

綜上所述,UHAST與BHAST作為HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱中的兩種重要測試方法,各自具有優(yōu)勢和適用范圍。在選擇測試方法時(shí),應(yīng)根據(jù)被測器件的特性、測試目的以及實(shí)際應(yīng)用場景進(jìn)行綜合考慮,以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和有效性。

 


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